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贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平，升级版PIDS专利技术（专利号：4953978；5104221）、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。

特点：长寿命镭射技术从而降低了使用成本，流量1(28.3 升/ 分)，粒度计数仪销售，可i小监控0.3μm(4503)和0.5μm(4505)粒径颗粒。0.3-5.0μm和0.5-10.0μm监测范围。RS422 脉冲或者RS485Modbus， 输出接线方式为RJ45 与FMS 系统连接和通讯。应用：电子半导体厂洁净室空气监控，惰性气体采样和微环境监控。

全自动运算分析功能，多峰自动检测，无需事先猜测峰型，无需选择分析模型，提供客观的报告。升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能，真正实现10nm下限峰值测量。PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒，而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。纳米分析功能与微米分析功能合二为一，功能强大，真正10nm的测量可使其作为***的高分辨率纳米粒度分析仪使用。

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根据不同的应用和要求，有两种机型可供选择：测量范围从0.4微米至2，000微米的单波长光学系统，进口粒度计数仪，以及测量范围从17纳米至2，000微米，采用贝克曼库尔特的偏振光强度差散射(PIDS)专利技术的多波长系统。多种i新型的样品进样模块，满足不同的分析要求，灵活便利。